X Ray fluorescens Spektrometer(XRF)

X Ray fluorescensspektrometer (XRF) er en rask, ikke-destruktiv metode for materialmåling, som er stort brukt i elementanalyser og kjemiske analyser, særlig i undersøkelsen og forskningen av metall og glass.

Et typisk XRF består av et rør og et påvisningssystem. Røntgenrøret produserer et enkelt røntgenbilde som stimulerer prøven under prøve. Hvert element i en oppstemt prøve avgir sekundær røntgenstråle, og sekundære røntgenstråler som avgis av forskjellige grunnstoffer, har særlige energiegenskaper eller bølgelengdeegenskaper. Ved hjelp av prinsippet for røntgenfluorescens er det teoretisk mulig å måle alle elementer i grunnstoffenes periodiske tabell.